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熒光膜厚儀 xulm240

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型號包括：

        ? FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® 210
        ? FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® 220
        ? FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® 240

?丨菲希爾熒光鍍層測厚儀介紹：

在電鍍或電子元件生產(chǎn)過程中需要快速且精確地測定鍍層厚度時，XUL® 系列測量儀器是您的*選解決方案。X 射線熒光儀器可自下而上進(jìn)行測量，能夠在測量臺上對樣品進(jìn)行輕松定位。該系列的所有 X 射線儀器均配備相同的探測器。您可以根據(jù)自己的測量需求選擇不同的準(zhǔn)直器、濾波器以及 X 射線管。XULM適合測量小的結(jié)構(gòu)。它配備了微聚焦管，測量點*小可達(dá)約100μｍ，同時比例接收器仍然可以保持相對高的計數(shù)率。即使很短的測量時間也可以達(dá)到很好的重復(fù)精度。此外，XULM配備了可自動切換的準(zhǔn)直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應(yīng)用創(chuàng)造*佳的激勵條件。 ?

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測量PCB板上:Au/Ni/Cu/PCB               測量連接器:Au/Ni/CuSn6

特性：

    。 憑借寬大的測量室和自下而上的測量方向，即使大型樣品（如：印制電路板或柔性電路板）也可簡便、快速地定位
    。 硬件選項豐富多樣，可滿足各種測量需求
    。 可選配微聚焦 X 射線管，從而可測量直徑僅為 100 µm 的微型結(jié)構(gòu)和測量表面

應(yīng)用：

    。 鉻鍍層，如：經(jīng)過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
    。 防腐蝕鍍層，如鋼材上的鋅鍍層
    。 印制電路板和柔性電路板上的鍍層
    。 接插件和連接器上的鍍層
    。 電鍍槽液分析

特征：

    。 帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗口和鎢靶的微聚焦X射線管。 *高工作條件:50KV,50W
    。 X射線探測器采用比例接收器
    。 準(zhǔn)直器:固定或4個自動切換，0.05 x0.05mm到直徑00.3mm
    。 基本濾片:固定或3個自動切換
    。 測量距離可在0-27.5mm范圍內(nèi)調(diào)整
    。 固定的樣品支撐臺或手動XY工作臺
    。 攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置。 刻度線經(jīng)過校準(zhǔn)， 顯示實際測量點大小。
    。 設(shè)計獲得許可， 防護(hù)全面， 符合德國X射線條例第4章第3節(jié)