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涂層測(cè)厚儀又稱(chēng)為覆層測(cè)厚儀EPK Minitest 1100、EPK Minitest 2100、EPK Minitest 3100、EPK Minitest 4100,其原理如下：
磁性測(cè)厚原理:當(dāng)測(cè)頭與覆層接觸時(shí),霍爾發(fā)現(xiàn)這個(gè)電位差UH與電流強(qiáng)度IH成正比,測(cè)頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路,由于非磁性覆蓋層的存在,使磁路磁阻變化,與磁感應(yīng)強(qiáng)度B成正比,當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí),金屬基體上產(chǎn)生電渦流,與薄片的厚度d成反比。通過(guò)測(cè)量其變化可計(jì)算覆蓋層的厚度。
渦流測(cè)厚原理:利用高頻交電流在線圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng),磁性測(cè)厚法是用來(lái)無(wú)損的測(cè)磁性金屬上的非磁性覆蓋層的厚度,現(xiàn)在有一款新型的涂層測(cè)厚儀,即涂層測(cè)厚儀膜厚儀,它采用的是的磁感技術(shù)。也就是我們知道的霍爾效應(yīng),霍爾于1879年發(fā)現(xiàn)的。渦流法可無(wú)損的測(cè)量費(fèi)磁性金屬基體上的非導(dǎo)電層的厚度。通過(guò)研究霍爾電壓與工作電流的關(guān)系,測(cè)量電磁鐵磁嘗磁導(dǎo)率、研究霍爾電壓與磁場(chǎng)的關(guān)系,涂層測(cè)厚儀又叫覆層測(cè)厚儀膜厚儀,測(cè)膜儀,涂鍍層儀它是采用磁性測(cè)厚法和渦流法測(cè)厚原理。
涂層測(cè)厚儀膜厚儀根據(jù)測(cè)量原理一般有以下五種類(lèi)型方法:
1.磁性測(cè)厚法EPK Minitest 740，EPK Minitest 600F，MikroTest G 6:適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量.導(dǎo)磁材料一般為:鋼\\鐵\\銀\\鎳.此種方法測(cè)量精度高
2.渦流測(cè)厚法EPK Minitest 600N:適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量。
3.超聲波測(cè)厚法QuintSonic 7:目前國(guó)內(nèi)還沒(méi)有用此種方法測(cè)量涂鍍層厚度的,國(guó)外個(gè)別廠家有這樣的儀器,適用多層涂鍍層厚度的測(cè)量或則是以上兩種方法都無(wú)法測(cè)量的場(chǎng)合.但一般價(jià)格昂貴,如200型超聲涂層測(cè)厚儀于測(cè)量非金屬基體上的涂層。
4.電解測(cè)厚法GalvanoTest 2000 ，GalvanoTest 3000 :此方法有別于以上三種,不屬于無(wú)損檢測(cè),需要破壞涂鍍層.一般精度也不高.測(cè)量起來(lái)較其他幾種麻煩
5.放射測(cè)厚儀膜厚儀X-Ray:此種儀器價(jià)格非常昂貴（一般在10萬(wàn)RMB以上）,適用于一些特殊場(chǎng)合。
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